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日本inter-action光源装置

日本inter-action光源装置 IA-NIR110W
用于测距传感器检查,这是用于测试 iToF 传感器的光源设备。它内置于测试头中,并用受控光照射传感器。您可以选择三种波长(810nm/850nm/940nm)之一。
主要特点:
1.实现减少斑点噪声的宽照射区域。
2.所有波长的辐射强度误差小于5%。
型号名称:IA-NIR110W
类型:内置测试头类型
照射区域:160毫米X150毫米

  • 产品型号:IA-NIR110W
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-09-04
  • 访  问  量:79
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日本inter-action光源装置 IA-NIR110W

用于测距传感器检查,这是用于测试 iToF 传感器的光源设备。它内置于测试头中,并用受控光照射传感器。您可以选择三种波长(810nm/850nm/940nm)之一。

主要特点:

1.实现减少斑点噪声的宽照射区域。

2.所有波长的辐射强度误差小于5%。

型号名称:IA-NIR110W

类型:内置测试头类型

照射区域:160毫米X150毫米

均一性:士5.0%

日本inter-action光源装置 IA-NIR110W

用于测距传感器检查,这是用于测试 iToF 传感器的光源设备。它内置于测试头中,并用受控光照射传感器。您可以选择三种波长(810nm/850nm/940nm)之一。

主要特点:

1.实现减少斑点噪声的宽照射区域。

2.所有波长的辐射强度误差小于5%。

型号名称:IA-NIR110W

类型:内置测试头类型

照射区域:160毫米X150毫米

均一性:士5.0%

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