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2024-09-18 2024-09-18 2024-09-06 2024-09-06 2024-09-04 日本 jfe膜厚分布测量装置FDC-H15101.能够测量6英寸晶圆的整个表面2.能够以高分辨率（约5μm）测量整个样品表面和局部厚度3.紧凑的设计，可安装在桌面上4.基于高分辨率的局部测量由于可以6um的高分辨率测量约3mm角，因此适用于需要局部测量的器件图案上等膜厚分布测量。5.最大6英寸的全面测量可选择测量点间隔的网格尺寸，可全面测量至6英寸芯片尺寸。
产品型号：FDC-H1510厂商性质：经销商更新时间：2024-08-29访 问 量：73
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日本 jfe膜厚分布测量装置FDC-H1510
特征
1.能够测量6英寸晶圆的整个表面
2.能够以高分辨率（约5μm）测量整个样品表面和局部厚度
3.紧凑的设计，可安装在桌面上
4.基于高分辨率的局部测量
由于可以6um的高分辨率测量约3mm角，因此适用于需要局部测量的器件图案上等膜厚分布测量。
5.最大6英寸的全面测量
可选择测量点间隔的网格尺寸，可全面测量至6英寸芯片尺寸。
主要用途
器件图案等的膜厚分布测量
日本 jfe膜厚分布测量装置FDC-H1510
特征
1.能够测量6英寸晶圆的整个表面
2.能够以高分辨率（约5μm）测量整个样品表面和局部厚度
3.紧凑的设计，可安装在桌面上
4.基于高分辨率的局部测量
由于可以6um的高分辨率测量约3mm角，因此适用于需要局部测量的器件图案上等膜厚分布测量。
5.最大6英寸的全面测量
可选择测量点间隔的网格尺寸，可全面测量至6英寸芯片尺寸。
主要用途
器件图案等的膜厚分布测量
公司简介
深圳九州工业品有限公司，坐落于深圳市，是一
家工业品综合服务商。主要包括机电设备、电子
产品、仪器仪表、工业器材的销售及其它国内贸
易、经营进出口等业务。搭建工业品供应链，采
用与 MRO分销商结盟的方式，把零散采购订单集
中处理，流程简化，提供一站式供应服务。在美
国、德国、日本、韩国、中国台湾建专业国际采
购团队、技术顾问、销售团队为各种领域提供各
类高品质的工业产品和优质的整合服务。通过与
厂家建立快捷、有效的沟通，和众多国外生产厂
家建立了长久合作伙伴关系。
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