服务热线：15766191432产品到哪里，服务到哪里 !
products category
更新时间：2023-11-24 
浏览次数：159
它具有较宽的高度测量范围，可以测量白色干涉仪难以一
次测量的起伏。
它体积小、重量轻，可以集成到各种设备中。
可进行实时 [0.1 秒（最大）] 波纹度测量。
它具有较宽的动态范围，可以测量干涉仪难以测量的大像差。
除了波前的传感器之外，底座单元还内置有自准直仪、可用作测
量光的激光光源以及便于调节的对准相机。
可根据需要选配各种附件（扩束镜、聚光镜、参考球等）。
半导体晶圆波纹度测量
平面基底上金属薄膜波纹度的测量
金属和玻璃表面波纹度的测量
硬盘表面波纹度的测量
非球面透镜和凹/凸透镜的检查
镜头单元和光学装置的调整
检查平面物体的反射和透射波前的
扫一扫
您的位置：
在线咨询
返回顶部